Scientific journal
Modern high technologies
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,940

AUTOMATED MULTI-BEAM LASER COMPLEX WITH A CONTROLLED TELESCOPE

Umnov V.P. 1
1 Vladimir State University named after Alexander Grigorevich and Nikolay Grigorevich Stoletov
1740 KB
This paper presents a new laser system based on the use of a six-beam gas-discharge laser, which provides a high degree of versatility and excellent consumer characteristics, especially important in small-scale production. The laser complex is based on a gas-discharge laser consisting of 6 autonomous lasers (tubes filled with a mixture of carbon dioxide, helium and nitrogen). The complex provides autonomous control of the radiation power of each of the 6 lasers. In order to ensure high-quality performance of laser technological processes during multipath processing, the complex provides automatic control of temperature, the position of laser spots in the heating zone of the treated surface, as well as the spatial position of the processing object with the organization of feedback according to the specified parameters. For this purpose, the complex is equipped with a set of sensors, controllers and other components that provide automatic preparation of control programs and control of the processes of performing various laser operations. The laser provides a controlled telescope, including a set of flat, concave and convex mirrors. Concave mirrors can be moved by means of micro-displacement drives controlled by the controller, along two orthogonal coordinates. A mathematical model of the telescope in vector-matrix form has been created to develop the telescope’s software.
multi-beam laser
mirror
sensor
controlled telescope
coordinate system
lens
stepper drive
micro-displacement
mathematical model
matrix

Введение

Одним из перспективных направлений совершенствования лазерных технологических процессов является создание и применение многолучевого источника излучения с автоматическим управлением выходной мощности. Для обеспечения высокого качества выполнения лазерных технологических процессов при многолучевой обработке необходимо автоматическое управление температурой, положением лазерных пятен в зоне нагрева обрабатываемой поверхности, а также пространственным положением объекта обработки с организацией обратных связей по указанным параметрам. Применение многолучевого лазера и предложенной структуры системы управления комплексом позволяет: выполнять упрочнение поверхности широким пятном (шириной до 20 мм) без сканирования с регулируемым перекрытием дорожек упрочнения; реализовать лазерную сварку разнородных компонентов, различной толщины при большой ширине стыка между свариваемыми деталями; организовать лазерную наплавку с предварительным подогревом и снятием напряжений в наплавленном треке; расширить перечень операций, в том числе по обработке композиционных материалов и гибридных лазерных технологий сварки [1, с. 587], выполняемых одним лучом, а также значительно повысить их качество.

Цель исследования – предоставить структурное построение высокоавтоматизированного универсального лазерного комплекса на платформе многолучевого лазера с управляемыми величиной мощности и положением лазерных пятен на поверхности объекта обработки с использованием телескопа, с совокупностью датчиков и управляющих устройств, а также создание математической модели телескопа, которая учитывает все ключевые параметры системы, позволяет оптимизировать ее функционирование.

Материалы и методы исследования

Состав многолучевого лазерного комплекса представлен на рис. 1, где обозначено: 1 – лазер; 2 – телескоп; 3 – исполнительное устройство комплекса; 4 – питатель наплавочного материала; 5 – устройство технического зрения; 6 – датчик трехмерного сканирования поверхности обрабатываемого изделия; 7 и 9 – контроллеры, выполняющие функции интерфейсов; 8 – измеритель температуры нагрева поверхности; 10 – станция управления комплексом; 11 – блок регуляторов; 12 – компьютерный блок подготовки управляющих программ; 13 – блок компьютерного управления лазером совместно с телескопом.

Многолучевой лазер построен на базе газоразрядного лазера [2, с. 113; 3, с. 14] с шестью трубками, заполненными смесью газов, чаще всего смесью (СО2), гелия (He) и азота (N₂). В общем случае трубки могут располагаться произвольно относительно центральной оси лазера и по отношению друг к другу, но предпочтительно их следует располагать исходя из одинаковых условий масляного проточного охлаждения. Управление лазером, осуществляемое блоком компьютерного управления 13 выполняет контроль и диагностику его состояния, условий охлаждения и позволяет регулировать мощность излучения каждой из шести трубок. Телескоп 2 включает 24 зеркала, из которых 12 плоских, 6 выпуклых и 6 вогнутых, и служит для приема лучей от лазера, формирования их взаимного относительного расположения и положения в пространстве в различном сочетании от совмещения в одно пятно и до шести пятен в зависимости от выполняемой операции с последующим управляемым направлением лучей блоком 6 (каждого вокруг двух взаимно перпендикулярных осей) в оптическую систему исполнительного устройства 3 [4, с. 483].

missing image file

Рис. 1. Структурная схема универсального лазерного комплекса, построенного на базе многолучевого (шестилучевого) газоразрядного лазера

Исполнительное устройство 3 представляет собой робот или станок с пятью степенями подвижности (осями) и встроенными оптической системой транспортировки излучения (совокупностью плоских зеркал) от телескопа к поверхности объекта обработки и фокусирующей линзой, располагаемой в оптической головке. В устройство 3 также встроена система охлаждения оптических элементов и, при необходимости, система их юстировки. Питатель наплавочного материала 4 служит для подачи порошка или проволоки в зону обработки при выполнении операции лазерной наплавки или проволоки при выполнении сварки с регулируемыми скоростью перемещения и расходом. Устройство технического зрения 5, в качестве которого используется видеокамера, предназначено для контроля положения лазерных пятен на поверхности обработки. Датчик трехмерного сканирования 6 поверхности обрабатываемого изделия (например, бинокулярный триангуляционный лазерный датчик ЛД-2 [5, с. 100]) предназначен для сканирования поверхности обрабатываемого объекта с целью измерения его геометрии и положения в назначенной системе координат и формирования ее модели. Измерение температуры нагрева поверхности или зоны обработки производится датчиком 8, в качестве которого может использоваться пирометр или термограф ИРТИС-2000 СН, имеющий матрицу 640×480 измерительных пикселей, частоту опроса 0,8 с и цифровой выход. Автоматическое управление температурой, положением лазерных пятен в зоне нагрева обрабатываемой поверхности, а также пространственным положением объекта обработки с организацией обратных связей по указанным параметрам позволяет: выполнять широкий спектр лазерных технологических операций с высоким качеством. Параметрами движения исполнительного устройства 3 (величиной перемещения, скорости и при необходимости ускорением) управляет станция управления комплексом 10 с использованием информации с датчиков и устройств 5, 6 и 8, с помощью которых, а также контроллеров 7, 9 организованы обратные связи, необходимые для выполнения операций с высоким качеством. Регуляторы в блоке 11 (ПИД-регуляторы) служат для обеспечения высокой точности перемещения исполнительного устройства 3 в процессе выполнения операции, а также инвариантности процессов к внешним возмущениям.

Компьютерный блок подготовки управляющих программ 12 в соответствии с заданными параметрами процесса выполняет моделирование лазерной операции с использованием информации, получаемой с датчика 6, и выполняет автономное программирование. Если результат моделирования программы роботизированной лазерной обработки соответствует требованиям, программа обработки загружается в блок 13 для фактической реализации. Если моделирование не соответствует требованиям, блоку обработки модели необходимо выполнить повторную попытку и планирование траектории модели. Отметим, что 10 выполняет постоянную диагностику и мониторинг состояния всех устройств комплекса.

Телескоп 3 содержит совокупность вогнутых и выпуклых первичных и вторичных отражающих зеркал по одному на каждый выходной луч излучателя, перемещаемых с помощью управляемых контроллером приводов микроперемещений, состоящих из шаговых микродвигателя и передач винт – гайка.

Результаты исследования и их обсуждение

Для построения алгоритмов и программного обеспечения системы управления приводами поворота вторичных зеркал необходима математическая модель телескопа. Для ее построения представим схему телескопа, содержащую его основные геометрические параметры и выбранные системы координат, которые приведены на рис. 2–5.

Системы координат выбраны правыми и введены в рассмотрение для удобства построения математической модели. На рис. 2, а, представлено расположение выпуклых и вогнутых первичных и вторичных отражающих зеркал на концентрических окружностях равномерно с угловым шагом π/3 и симметрично относительно оптической оси телескопа. На рис. 2, б, приведена схема и размеры для i-го вторичного зеркала (i = 1…6 порядковый номер зеркала и шаровой опоры), где т. А и т. В – точки воздействия двух одинаковых приводов привода А и привода В микроперемещений на охладитель для поворота i-го вторичного зеркала вокруг оси Xшi при вращении винтов приводов А и В в одну сторону и с одинаковой скоростью и вокруг оси Yi при вращении винтов приводов А и В в противоположные стороны; Ri – расстояние от оптической оси до точки поворота i-го вторичного зеркала на i-й шаровой опоре; ri – расстояние от точки поворота i-го вторичного зеркала на i-й шаровой опоре до центра i-го вторичного зеркала; hi – расстояние от центра i-го вторичного зеркала до точек А и В по оси Yi; Мi – расстояние между симметрично расположенными относительно оси Yi точками А и В; X0,Y0,Z0,о0 – базовая инерциальная система координат; Xшi,Yшi,Zшi, ошi – система координат, связанная с центром i-й шаровой опоры i-го вторичного зеркала. Здесь обозначено Ψi = (i – 1) π/3 – угол между осями X0 и Xшi.

missing image file

а)

missing image file

б)

Рис. 2: а – схема относительного расположения первичных и вторичных зеркал; б – размеры и расположение выбранных осей координат i-го зеркала телескопа шестилучевого лазера

missing image file

Рис. 3. Схема расположения привода микроперемещений i-го вторичного зеркала: 1 – шаговый микродвигатель А (шаговый двигатель Б расположен строго за двигателем А и на рисунке не виден); 2 микрометрический винт; 3 – гайка; 4 – соединительная муфта; 5 – корпус; 6 – пружина сжатия; 7 – 1-е i-е вторичное зеркало; 8 – охладитель; 9 – шаровая опора; 10 – лазерный пучок от i-го первичного зеркала; 11 – лазерный пучок от i-го вторичного зеркала; Xзi, Yзi, Zзi, озi и Xi, Yi, Zi, oi – системы координат, привязанные к центру 1-го вторичного зеркала и к точке воздействия винта 2 на охладитель 8; ki – расстояние от внешней поверхности охладителя до центра от i-го вторичного зеркала

missing image file

Рис. 4. Схема прохождения i-го лазерного пучка от i-го вторичного зеркала к объекту по сечению в плоскости поворота на угол qхi: 1 – i-е вторичное зеркало; 2 – фокусирующая линза (длиннофокусная, преимущественно плоско-выпуклая); 3 – объект обработки; 4 – лазерный пучок от i-го первичного зеркала; 5 – условно обозначенное средство перемещения лучей до поверхности обработки, включая фокусирующую линзу 2; 6 – ось выходного луча в начальном положении i-го вторичного зеркала (параллельна оси Z0); 7 – ось выходного луча при повороте зеркала на угол qxi; Li – расстояние от центра i-го вторичного зеркала 1 до центра фокусирующей линзы 2 с учетом длины оптического тракта средства перемещения лучей до поверхности обработки; F – фокусное расстояние; p – проекция расстояния от точки фокуса до объекта обработки 3 на ось Z0 инерциальной системы координат при расположении объекта обработки за фокусом; p* – проекция расстояния от точки фокуса до объекта обработки 3 на ось Z0 инерциальной системы координат при расположении объекта обработки перед фокусом (примем p* = р); Dпi и Нпi – усредненный диаметр i-го лазерного пятна на поверхности объекта обработки и расстояние от центра i-го лазерного пятна на поверхности объекта до оси Z0 инерциальной системы координат; ϕ – угол между центром лазерного пучка от i-го первичного зеркала и осью Z0 инерциальной системы координат (постоянная величина); Xлi, Yлi, Zлi, олi и Xпi ,Yпi, Zпi, oпi – соответствующие системы координат

missing image file

Рис. 5. Схема прохождения i-го лазерного пучка от i-го вторичного зеркала к объекту обработки в плоскости поворота на угол qyi: Нпуi – расстояние от оптической оси до центра лазерного пятна на поверхности объекта обработки в плоскости поворота на угол qyi

На рис. 3 представлена схема расположения компонентов привода микроперемещений i-го вторичного зеркала.

На рис. 4 схема прохождения i-го лазерного пучка от i-го вторичного зеркала к объекту обработки.

Условное обозначение средства перемещения лучей до поверхности обработки 5 в рассматриваемом случае допустимо вследствие использования оптической оси в качестве базовой системы координат, отражающие зеркала, располагаемые в нем являются плоскими, а также исходя из того, что лазерное излучение является одномодовым и его расходимость не превышает 1 мрад. На рис. 5 представлена схема прохождения i-го лазерного пучка от i-го вторичного зеркала к объекту обработки в плоскости его поворота на угол qyi.

Учитывая многомерность системы для построения математической модели телескопа целесообразно использовать скалярные или векторно-матричные преобразования [6, с. 13] и однородные координаты операций, а также их представление и преобразование в соответствии с правилом Денавита – Хартенберга операций [7, с. 415–419]. Построение модели телескопа можно разделить на три этапа:

− описание положения вторичных вогнутых зеркал в инерциальной системе координат;

− описание взаимосвязи положения вторичных вогнутых зеркал с углами поворота вала шаговых микродвигателей;

− описание взаимосвязи положения лазерных пятен на поверхности объекта обработки, заданного в инерциальной системе координат с углами поворота вала шаговых микродвигателей.

Положение вторичных вогнутых зеркал в инерциальной системе координат может быть представлено с помощью матричного преобразования

ТОЗ = ТОШ · ТШЗ, (1)

где ТОЗ – блочная диагональная матрица, описывающая положение вторичных вогнутых зеркал в инерциальной системе координат, которая имеет вид

ТОЗ = diag || W0зi ||, (2)

где W0зi – матрица размером 4×4, описывающая положение координатных осей и центра i-го зеркала в инерциальной системе координат. ТОШ – блочная диагональная матрица, описывающая положение шаровых опор в инерциальной системе координат; ТШЗ – блочная диагональная матрица, описывающая положение вторичных вогнутых зеркал в координатах шаровых опор. Блочная диагональная матрица ТОШ имеет вид

ТОШ = diag || W0шi ||, (3)

где W0шi – матрица размером 4×4, описывающая положение координатных осей и центра i-й шаровой опоры в инерциальной системе координат, имеющая вид

W0шi missing image file. (4)

Примечание. С – Cos S – Sin. Матрица (3) отражает поворот координатной системы X0, Y0, Z0, о0 вокруг оси Z0 против часовой стрелки (угол положительный) на угол Ψi и совмещение начал координат О0 и Ошi.

Блочная диагональная матрица ТШЗ, описывающая положение центра и координатных осей вторичных вогнутых зеркал в координатах шаровых опор имеет вид

ТШЗ = diag || Wшзi ||, (5)

где Wшзi, где матрица размером 4×4, описывающая положение центра i-го зеркала и координатных осей, связанных с i-м зеркалом в координатах i-й шаровой опоры и имеющая вид

Wшзi = Wqхi · Wqyi , (6)

где Wqхi , Wqyi – матрицы, описывающие последовательно выполняемые поворот осей координатной системы Xшi, Yшi, Zшi, ошi вокруг оси Xшi на угол qxi и перенос точки ошi в точку озi и затем поворот осей координатной системы Xшi, Yшi, Zшi, ошi вокруг оси Yi на угол qyi. Матрица Wqхi имеет вид

Wqхi missing image file. (7)

Матрица Wqyi имеет вид

Wqyi missing image file. (8)

Произведение матриц (6) и (7) дает следующий результат:

Wшзi =missing image file. (9)

Произведение матриц (4) и (9) позволяет описать положение i-го вторичного зеркала в инерциальной системе координат:

W0зi = missing image file. (10)

Выполним описание взаимосвязи положения i-го вторичного вогнутого зеркала с углами поворота ɣ1i и ɣ2i вала двух шаговых микродвигателей, осуществляющих поворот зеркала вокруг осей Xшi и Yшi. В соответствии с рис. 2, б, и рис. 3 при повороте i-го вторичного вогнутого зеркала вокруг оси Xшi углы поворота ɣ1i и ɣ2i будут одинаковыми и равными величине

ɣ1i = ɣ2i = tв–1 (ri+hi) tg qxi, (11)

где tв шаг винта. Смещения центра i-го вторичного вогнутого зеркала по осям Y0 и Z0 составят величины

Δ Y0 = ri Сqxi – ki Sqxi, Δ Z0 = ri (1 – Сqxi) + ki Sqxi. (12)

При повороте i-го вторичного вогнутого зеркала вокруг оси Yшi углы поворота λ1i и λ2i будут равными величине и противоположными по направлению:

λ1i = 0,5 Мi tв–1 tg qYi , λ2i = – 0,5 Мi tв–1 tg qYi. (13)

Смещения центра i-го вторичного вогнутого зеркала по осям X0 и Z0 составят величины

Δ X0 = ki Sqyi, Δ Z0 = ki (1 – Sqyi). (14)

Для описания взаимосвязи положения лазерных пятен на поверхности объекта обработки, с углами поворота вала шаговых микродвигателей, воспользуемся рис. 4 и 5. Поскольку при повороте i-го вторичного вогнутого зеркала из начального положения на углы qxi и qYi лазерный пучок повернется вокруг осей Xзi, Yзi на углы θлxi = 2qxi и θлyi = 2qyi соответственно положение пучка на фокусирующей линзе можно описать матрицей:

Wлзi =missing image file. (15)

Преобразование координатной системы Xлi, Yлi, Zлi, олi в систему Xпi, Yпi, Zпi, описывающее ориентацию луча и положение лазерного пятна на поверхности объекта обработки в системе координат Xлi, Yлi, Zлi, олi, можно представить аналогичной матрицей:

Wлпi =missing image file. (16)

Расстояния до центров лазерных пятен на поверхности объекта обработки можно определить по скалярным выражениям:

− расстояние до центра пятна в инерциальной системе координат по оси Y0:

Нпyi = PVyi F-1; (17)

− расстояние до центра пятна в системе координат по оси Y0 относительно центра координат i-го вторичного вогнутого зеркала:

Нзпyi= PVзyi F-1; (18)

− расстояние до центра пятна в инерциальной системе координат по оси X0:

Нпxi= PVxi F-1; (19)

− расстояние до центра пятна в системе координат по оси X0 относительно центра координат i-го вторичного вогнутого зеркала:

Нзпхi= Нпxi. (20)

В выражениях (17)–(19) обозначено:

Vyi = Ri + ri + Li (tgθxi)-1;

Vзyi = Ri + ri – Нпyi;

Vxi = Li (tgθyi)-1.

Равенство (20) отражает совмещение осей X0 и Xзi в исходном положении i-го вторичного вогнутого зеркала. Усредненный диаметр лазерного пятна на поверхности объекта обработки можно определить по выражению

Dпi= P Di F-1, (21)

где Di – диаметр лазерного пятна на входе в фокусирующую линзу.

Предложена структура универсального многофункционального лазерного комплекса на базе многолучевого лазера, оснащенного управляемым телескопом с управляемыми величиной мощности и положением лазерных пятен на поверхности объекта обработки, а также системой датчиков информации о параметрах выполнения технологического процесса. Получена математическая модель управляемого телескопа для построения алгоритмов управления и подготовки программного обеспечения работой комплекса.

Заключение

Результаты, полученные в работе, могут быть использованы при создании высокоавтоматизированных технологических лазерных комплексов различного назначения и широкой номенклатуры обрабатываемых изделий, а также при построении оптических систем с управляемым перемещением зеркал и линз.