В 1993 году была предложен способ сегментации полутоновых изображений, основанный на анализе структуры разностей между интенсивностями регистрируемого параметра каждого пикселя и соседних с ним пикселей [1]. Этот способ получил дальнейшее развитие в публикациях [2...14]. Распространение и развитие этого способа осуществлялось во взаимосвязи с другими методами и методиками обработки изображений и контроля качества изделий, что нашло отражение в публикациях [15...28].
Рассмотрим распределение интенсивности регистрируемого параметра в окрестности элемента, координаты которого «i,j», по табл. 1.
Таблица 1
Распределение интенсивности регистрируемого параметра
|
|
i-1 |
i |
i+1 |
|
j-1 |
14 |
13 |
10 |
|
j |
15 |
2 |
7 |
|
j+1 |
11 |
5 |
10 |
Составим структурно-разностное описание данного элемента (табл. 2).
Таблица 2
Структурно-разностное описание элемента растрового изображения
|
c |
pi,j,c |
pi,j,c+4 |
пара направлений |
|
1 |
0 |
0 |
низинная |
|
2 |
0 |
1 |
негативно-контурная |
|
3 |
0 |
0 |
низинная |
|
4 |
0 |
1 |
негативно-контурная |
Графически это описание интерпретируется следующим образом (рис. 1).
Рис. 1. Графическая интерпретация структурно-разностного описания элемента
Как видим, структурная последовательность пар направлений данного элемента следующая: низинная, негативно-контурная, низинная, негативно-контурная. Из этого следует, что, данный элемент является НизНкНизНк элементом. Наивысшим приоритетом в данной структурной последовательности обладает негативно-контурная пара направлений. Таким образом, данный элемент следует отнести к негативно-контурным.