В 1993 году была предложен способ сегментации полутоновых изображений, основанный на анализе структуры разностей между интенсивностями регистрируемого параметра каждого пикселя и соседних с ним пикселей [1]. Этот способ получил дальнейшее развитие в публикациях [2...14]. Распространение и развитие этого способа осуществлялось во взаимосвязи с другими методами и методиками обработки изображений и контроля качества изделий, что нашло отражение в публикациях [15...28].
Рассмотрим распределение интенсивности регистрируемого параметра в окрестности элемента, координаты которого «i,j», по табл. 1.
Таблица 1
Распределение интенсивности регистрируемого параметра
|
|
i-1 |
i |
i+1 |
|
j-1 |
1 |
1 |
5 |
|
j |
15 |
10 |
6 |
|
j+1 |
0 |
9 |
1 |
Составим структурно-разностное описание данного элемента (табл. 2).
Таблица 2
Структурно-разностное описание элемента растрового изображения
|
c |
pi,j,c |
pi,j,c+4 |
пара направлений |
|
1 |
1 |
2 |
позитивно-контурная |
|
2 |
2 |
1 |
позитивно-контурная |
|
3 |
2 |
2 |
вершинная |
|
4 |
1 |
1 |
негативная |
Графически это описание интерпретируется следующим образом (рис. 1).
Рис. 1. Графическая интерпретация структурно-разностного описания элемента
Как видим, структурная последовательность пар направлений данного элемента следующая: позитивно-контурная, позитивно-контурная, вершинная, негативная. Из этого следует, что, данный элемент является ПкПкВН элементом. Наивысшим приоритетом в данной структурной последовательности обладает позитивно-контурная пара направлений. Таким образом, данный элемент следует отнести к позитивно-контурным.