Scientific journal
Modern high technologies
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,940

В настоящее время развитие спектрофотометрического оборудования направлено на автоматизацию измерений путем введения персональных компьютеров, модулей и программного обеспечения в процесс проведения измерений, что приводит к повышению точности и уменьшению погрешностей, связанных с ошибками установочных параметров, существенно зависящих от оператора.

Современные спектральные приборы для работы в ультрафиолетовой области спектра оснащены большим количеством приставок, позволяющих проводить измерения как в проходящем свете, так и в отраженном, с возможностью изменения поляризации излучения, и множеством других параметров.

Поскольку используемая длина волны излучения мала, то в приборах применяется минимальная ширина щели. Так, в спектрофотометрах фирмы SHIMADZU "UVmini-1240" ширина щели неизменна и равна 5 нанометрам, спектрофотометрах UV-1650PC, UV-1700 (PharmaSpec) ширина щели соответственно 1 и 2 нанометра; прецизионном спектрофотометре UV-2401PC/UV-2501PC ширина щели регулируется от 0,1 до 5 нанометров. Диапазон их измерений составляет от 190 до 1000 нанометров [1].

Перечисленные приборы оснащены персональными компьютерами, которые при помощи программ выполняют основные функции по повороту голографических решеток при сканировании по спектру, повороту образца, калибровке прибора и т.д.

При проведении экологического мониторинга и исследований объектов биологического происхождения часто применяются флуоресцентные спектрометры, например СДЛ-2, RF-5301PC, RF-1501 и аналогичные им, у которых диапазоны измерений в ультрафиолетовой области спектра также начинаются со 190 нанометров.

Анализ отечественной и зарубежной литературы показывает, что область чувствительности разрабатываемых измерительных приборов постоянно смещается в коротковолновую область спектра. Это связано с тем, что при проведении химических анализов, экологического мониторинга, пищевого контроля и т.д. необходимо выявление вредных, в основном токсических химических веществ, спектры поглощения которых находятся в ультрафиолетовой области спектра (мышьяк - 193 нм, свинец - 283 нм, ртуть - 253 нм и др.) [2].

В плане дальнейшего совершенствования спектрофотометрического оборудования, предназначенного для внелабораторного мониторинга, с целью уменьшения его размеров, целесообразно применять малогабаритные полихроматоры [3], либо анализаторы на основе полосовых или узкополосных фильтров, выделяющих необходимый интервал длин волн. Созданию подобных фильтров посвящен целый ряд работ, например [4-6].

При проведении измерений на конкретной длине волны отпадает необходимость в установке прецизионных монохроматоров, из-за чего есть возможность существенного уменьшения габаритов измерительного оборудования. Разработка и применение многослоевого УФ - фильтра на основе многократного отражения открывает возможность обеспечения высокого пропускания в рабочей области спектра при глубоком подавлении фонового излучения до 10-10 %, и уменьшения габаритов фильтра в 5-6 раз.

Таким образом, проведенный анализ свидетельствует о том, что развитие спектрофотометрической техники будет проходить по пути миниатюризации и совершенствования как оптических и механических элементов, так и совершенствования компьютерных программ, которые позволят свести к минимуму аппаратурную и методическую погрешности измерений.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

  1. Каталог фирмы SHIMADZU, 2004, -5 с.
  2. Гайнутдинов И.С., Несмелов Е.А., и др. //Свойства и методы получения интерференционных покрытий для оптического приборостроения. - Казань,ФЭН - 2003. - - 424 с.
  3. Борисов А.Н., Никитин А.С. и др. Малогабаритный полихроматор //Оптический журнал. - 1997.- Т.64. Вып. 7. - С. 73-74.
  4. Телен А. Конструирование многослойных интерференционных светофильтров. //Физика тонких пленок. Пер. с англ., под ред. В.Б Сандомирского и А.Г. Ждана. - М: Мир, 1972. - т.5. - С. 46-83.
  5. Фурман Ш.А. Тонкослойные оптические покрытия. Л., Машиностроение, 1977.- 264 с.
  6. Яковлев П.П., Мешков Б.Б. Проектирование интерференционных покрытий. - М., Машиностроение, 1987.- 192 с.

Работа представлена на III конференцию «Современные наукоемкие технологии», 21-28 февраля 2005г. Хургада (Египет).