Научный журнал
Современные наукоемкие технологии
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,940

ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ТЕНЗОМЕТРИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЯВЛЕНИЙ ПРИ ВЫГЛАЖИВАНИИ

Змеев Д.А. 1 Селемон К.С. 1
1 Муромский институт филиал ФГБОУ ВПО «Владимирский государственный университет им. А.Г. и Н.Г. Столетовых»

При обработке поверхностным пластическим деформированием деталей из цветных металлов и сплавов вследствие их высокой пластичности и адгезионной активности (особенно при повышенных скоростях обработки) на гладкой поверхности появляются волны разной формы, которые в дальнейшем могут раздваиваться или задираться взаимно перемещающимися поверхностями с образованием трещин.

При движении инструмента по обрабатываемой поверхности глубина его внедрения в поверхностный слой заготовки непрерывно изменяется. Это вызывает изменение сил деформирования. Вследствие этого может происходить отжим детали от инструмента или «пропахивание» (микрорезание) поверхностного слоя. Отжим детали от инструмента с полным разрывом контакта между ними сопровождается последующим ударным вхождением в контакт, вибрацией.

Для оценки колебаний упругой системы использована установка, работающая по следующему принципу. Выглаживающий индентор 1 (см. рисунок) связан с упругими пластинами 2, на которые наклеены датчики 3. Сигнал с тензодатчиков усиливается тензостанцией 4 (типа ТА-5) и фиксируется на запоминающем осциллографе 5 (модели С8 – 13). На экране по записи фрагмента процесса замеряется длительность фрагмента – ТФi, в который входит несколько периодов единичных колебаний nTi. Частоту колебаний находим по формуле

masino14.wmf.


Библиографическая ссылка

Змеев Д.А., Селемон К.С. ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ТЕНЗОМЕТРИИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ДИНАМИЧЕСКИХ ЯВЛЕНИЙ ПРИ ВЫГЛАЖИВАНИИ // Современные наукоемкие технологии. – 2014. – № 5-2. – С. 73-73;
URL: https://top-technologies.ru/ru/article/view?id=33954 (дата обращения: 04.03.2024).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1,674