Научный журнал
Современные наукоемкие технологии
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 1,007

ЭЛЕМЕНТЫ НЕЧЕТКОЙ ЛОГИКИ В ЗАДАЧАХ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ

Н. А . Алмина Д. С. Пивоваров Н . Н . Номоконова
Предлагается обсудить проблему, которая будет интересна тем, кто использует микроэлектронные устройства (Му) при создании технических систем ответственного применения. Проблема состоит в том, что, несмотря на применение высоких технологий изготовления, разработку различных систем выходного контроля качества, как на отечественных, так и зарубежных предприятиях избежать выхода из строя МУ не удается.

Определение такой характеристики качества функционирования как безотказность возможно с помощью проведения процедур прогнозирующего контроля. Для решения этой сложной научно-технической проблемы разработана и создана информационно-измерительная система контроля качества МУ. Основой для проведения процедуры прогнозирующего контроля. Для решения этой сложной научно-технической проблемы разработана и создана информационно- измерительная система контроля качества МУ. Основой для проведения процедуры прогнозирующего контроля (оценки индивидуального технического состояния МУ по информативным параметрам) в указанной системе контроля стал метод критических питающих напряжений — один из электрофизических методов. Информативным параметром в данном методе является критическое питающее напряжение (Екр ), напряжение питания, при которым происходит первый сбой в работе МУ. Именно эти значения служат оценочной характеристикой при классификации Му — высоконадежные и потенциально ненадежные. Способ контроля является неразрушающим тестируемое Му способом, что крайне важно, т.к. выбранные высоконадежные устройства затем используются в системах ответственного применения. Многочисленные эксперименты на статистически значимых выборках Му различных технологий и степени интеграции показали, что Екр является информативным относительно таких скрытых дефектов как: токи утечки, нестабильность пороговых напряжений, задержка распространения сигнала. [1]

При проведении контроля современных Му (74HC4051, 74HC4052, дешифраторов 74HC139, 74HC139, КМОП коммутаторов Analog Devices ADG419, цифровых потенциометров AD8400) обнаружилось, что информативность рассматриваемого метода снизилась. Была принята стратегия развития метода контроля — поиск дополнительных информативных параметров. Результаты экспериментов подтвердили теоретические исследования о высокой информативности зависимости Екр от частоты тестовой последовательности — Екр (F). При наличии такой зависимости частотная характеристика должна лежать в пределах определенного коридора с нечеткими границами. Причем конфигурация этого коридора может определяться не раз и навсегда, а каждый раз в ходе измерения нового типа устройств. Разработан алгоритм построения границ коридора (или адаптивного порога) на основе теории нечетких множеств. Каждая новая точка на границе рассчитывается исходя из (а) расположения предыдущих точек и (б) данных базы знаний о возможных видах ЧХ. Фактически граница — это классическая функция принадлежности из теории нечетких множеств, меняющаяся от частоты.

Список литературы

  1. Номоконова Н.Н., Гаврилов В.Ю. Оценка ресурса полупроводниковых интегральных электронных устройств по информативным параметрам // Проектирование и технология электронных средств. №4, 2001. С.43–47.

Библиографическая ссылка

Н. А . Алмина, Д. С. Пивоваров, Н . Н . Номоконова ЭЛЕМЕНТЫ НЕЧЕТКОЙ ЛОГИКИ В ЗАДАЧАХ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УСТРОЙСТВ // Современные наукоемкие технологии. – 2010. – № 5. – С. 109-110;
URL: https://top-technologies.ru/ru/article/view?id=24766 (дата обращения: 04.12.2022).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1.074