Рисунок 1. Интерфейс программы
Программа может работать в двух режимах: при работе в первом режиме с клавиатуры заносятся значения периодов рассматриваемой решетки, вводится значение d - межплоскостного расстояния и, затем, программа строит рассматриваемую структуру, показывает расположение плоскости и выдает индексы системы рассматриваемых плоскостей. В первом режиме данные параметров решетки рассматриваемого материала и межплоскостных расстояний берутся из соответствующей справочной литературы; во втором режиме межплоскостные расстояния определяются из эксперимента. С клавиатуры вводятся значения углов отражения θ, определяемых с помощью установки ДРОН-3 или фотометодом с помощью установки УРС-55 и длина волны рентгеновского излучения λkαср. Программа рассчитывает межплоскостные расстояния. По этим данным с помощью картотеки АСТМ или, например, по справочнику Миркина определяется исследуемый материал, тип и периоды кристаллической решетки, которая затем моделируется так же, как и в первом режиме. Выполнение данной работы вызывает интерес у студентов, приводит к лучшему усвоению изучаемого материала, повышает качество знаний и способствует развитию исследовательских навыков и умений с использованием современных исследовательских установок и компьютерного моделирования изучаемых объектов, явлений и процессов.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
- Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электроннооптический анализ. М. Металлургия, 1970, 368 с.
- Багаряцкий Ю.А. Рентгенография в физическом металловедении. М. Металлургиздат, 1961, 368 с.
- Уманский Я.С. Рентгенография металлов. М. Металлургия, 1967, 236 с.
- Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М. Металлургия, 1982, 631 с.
- Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М. Изд-во физико-математической литературы, 1961, 863 с.
- Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу. Харьков, Изд-во харьковского университета, 1967, 474 с.
Библиографическая ссылка
Суппес В.Г., Вопилов А.В. МОДЕЛИРОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР И ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИСТАЛЛО¬ГРАФИЧЕСКИХ ИНДЕКСОВ ПЛОСКОСТЕЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ // Современные наукоемкие технологии. – 2005. – № 10. – С. 30-31;URL: https://top-technologies.ru/ru/article/view?id=23626 (дата обращения: 21.11.2024).