Научный журнал
Современные наукоемкие технологии
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,940

МОДЕЛИРОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР И ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИСТАЛЛО¬ГРАФИЧЕСКИХ ИНДЕКСОВ ПЛОСКОСТЕЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ

Суппес В.Г. Вопилов А.В.
В курсе общей физики рассматриваются элементы кристаллографии. Вводятся понятия кристаллической решетки, кристаллографических направлений и плоскостей, и их индексов. В данной работе предлагается компьютерная программа, позволяющая моделировать кристаллические структуры кубических, тетрагональной и гексагональной сингоний, моделировать плоскости кристаллической структуры и определять индексы Миллера (H, K, L) этих плоскостей [1-6]. Интерфейс программы приведен на рис.1.

p

Рисунок 1. Интерфейс программы

Программа может работать в двух режимах: при работе в первом режиме с клавиатуры заносятся значения периодов рассматриваемой решетки, вводится значение d - межплоскостного расстояния и, затем, программа строит рассматриваемую структуру, показывает расположение плоскости и выдает индексы системы рассматриваемых плоскостей. В первом режиме данные параметров решетки рассматриваемого материала и межплоскостных расстояний берутся из соответствующей справочной литературы; во втором режиме межплоскостные расстояния определяются из эксперимента. С клавиатуры вводятся значения углов отражения θ, определяемых с помощью установки ДРОН-3 или фотометодом с помощью установки УРС-55 и длина волны рентгеновского излучения λkαср. Программа рассчитывает межплоскостные расстояния. По этим данным с помощью картотеки АСТМ или, например, по справочнику Миркина определяется исследуемый материал, тип и периоды кристаллической решетки, которая затем моделируется так же, как и в первом режиме. Выполнение данной работы вызывает интерес у студентов, приводит к лучшему усвоению изучаемого материала, повышает качество знаний и способствует развитию исследовательских навыков и умений с использованием современных исследовательских установок и компьютерного моделирования изучаемых объектов, явлений и процессов.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

  1. Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электроннооптический анализ. М. Металлургия, 1970, 368 с.
  2. Багаряцкий Ю.А. Рентгенография в физическом металловедении. М. Металлургиздат, 1961, 368 с.
  3. Уманский Я.С. Рентгенография металлов. М. Металлургия, 1967, 236 с.
  4. Уманский Я.С., Скаков Ю.А., Иванов А.Н., Расторгуев Л.Н. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. М. Металлургия, 1982, 631 с.
  5. Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М. Изд-во физико-математической литературы, 1961, 863 с.
  6. Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу. Харьков, Изд-во харьковского университета, 1967, 474 с.

Библиографическая ссылка

Суппес В.Г., Вопилов А.В. МОДЕЛИРОВАНИЕ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СТРУКТУР И ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИСТАЛЛО¬ГРАФИЧЕСКИХ ИНДЕКСОВ ПЛОСКОСТЕЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ РЕШЕТКИ // Современные наукоемкие технологии. – 2005. – № 10. – С. 30-31;
URL: https://top-technologies.ru/ru/article/view?id=23626 (дата обращения: 09.10.2024).

Предлагаем вашему вниманию журналы, издающиеся в издательстве «Академия Естествознания»
(Высокий импакт-фактор РИНЦ, тематика журналов охватывает все научные направления)

«Фундаментальные исследования» список ВАК ИФ РИНЦ = 1,674