Scientific journal
Modern high technologies
ISSN 1812-7320
"Перечень" ВАК
ИФ РИНЦ = 0,940

1 1 1 1 1
1 Penza State University

В 1993 году была предложен способ сегментации полутоновых изображений, основанный на анализе структуры разностей между интенсивностями регистрируемого параметра каждого пикселя и соседних с ним пикселей [1]. Этот способ получил дальнейшее развитие в публикациях [2...14]. Распространение и развитие этого способа осуществлялось во взаимосвязи с другими методами и методиками обработки изображений и контроля качества изделий, что нашло отражение в публикациях [15...28].

Рассмотрим распределение интенсивности регистрируемого параметра в окрестности элемента, координаты которого «i,j», по табл. 1.

Таблица 1

Распределение интенсивности регистрируемого параметра

 

i-1

i

i+1

j-1

10

13

8

j

14

6

0

j+1

10

14

9

 

 

Составим структурно-разностное описание данного элемента (табл. 2).

Таблица 2

Структурно-разностное описание элемента растрового изображения

c

pi,j,c

pi,j,c+4

пара направлений

1

1

1

негативная

2

0

0

низинная

3

1

1

негативная

4

0

2

позитивная

 

 

Графически это описание интерпретируется следующим образом (рис. 1).

vol1.wmf 

Рис. 1. Графическая интерпретация структурно-разностного описания элемента

Как видим, структурная последовательность пар направлений данного элемента следующая: негативная, низинная, негативная, позитивная. Из этого следует, что, данный элемент является ННизНП элементом. Наивысшим приоритетом в данной структурной последовательности обладает позитивная пара направлений. Таким образом, данный элемент следует отнести к позитивным.