Научный журнал

Современные наукоемкие технологии

ISSN 1812-7320

"Перечень" ВАК

ИФ РИНЦ = 0,940

• Авторы
• Файлы
• Ключевые слова
• Литература

Гурьев А.М. 1 Иванова С.А. 1 Гармаева И.А. 1

---

1 Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова

Статья в формате PDF

297 KB

1. Гурьев А.М., Иванов С.Г., Гурьев М.А., Иванов А.Г., Лыгденов Б.Д., Земляков С.А., Долгоров А.А. Структура и свойства упрочненных бором и бором совместно с титаном поверхности штамповых сталей 5ХНВ и 5Х2НМВФ // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. – 2010. – Т. 7. – № 1. – С. 27-31.

2. Иванов С.Г., Гармаева И.А., Гурьев А.М. Особенности диффузии атомов бора и хрома при двухкомпонентном насыщении поверхности стали Ст3 // Фундаментальные проблемы современного материаловедения. – 2012. – Т. 9. – № 1. – С. 86-88.

3. Влияние добавок легирующих элементов в обмазку на процессы комплексного многокомпонентного диффузионного насыщения стали / С.Г. Иванов, М.А. Гурьев, А.Г. Иванов, А.М. Гурьев // Современные наукоемкие технологии. – 2010. – № 7. – С. 170-172.

Исследовано распределение химических элементов по толщине диффузионного слоя боротитанированной стали 5ХНМВФ. Режим обработки выбран по рекомендациям [1-3]: температура насыщения – 950 °С, время выдержки при температуре насыщения – 4 часа.

Микроструктура поверхности и карта распределения химических элементов исследовались при помощи сканирующего электронного микроскопа JEOL с энергодисперсионным анализатором-приставкой X-MAX Pro. Полученные данные пересчитывались по оригинальным методикам, в результате чего погрешность определения бора, как самого легкого элемента не превышала 0,15, углерода – 0,07.

По результатам спектрального анализа распределения элементов установлено, что содержание Fe–B–C–Si–Ti–Cr–W–Mo изменяется по глубине слоя от 1,19–2,83–1,23–0,21–0–0,17–0–0,002 на глубине 7 мкм от поверхности покрытия до 1,74–0,89–1,57–0,13–0–0,19–0,04–0,04 атомов соответственно.

Необходимо исследование данных соединений с помощью других методов исследования, таких как, например, микроэлектронографический метод, с целью построения элементарной кристаллической решетки получившихся соединений и установления их химического состава.

Работа представлена на Международную научную конференцию «Новые технологии, инновации, изобретения», Турция (Анталия), 16-23 августа 2012 г. Поступила в редакцию 05.06.2012.

Библиографическая ссылка