Предложено контролировать эти микрообъемные поля методом электронно- оптического муара, который своими картинами-узорами позволяет визуализировать их топологию и распределение на малых протяженностях, а также обнаруживать технологические и эксплуатационные дефекты. Использованы средства электронной микроскопии в совокупности с цифровой фототехникой и персональным компьютером, которые открывают широкие возможности по созданию информационно-измерительных систем для радиоэлектронной промышленности с целью автоматизации и повышения оперативности процесса разбраковки готовой продукции.
Разработаны информационно-измерительные системы на базе единых критериев, характеризующих муаровые картины на магнитных полях рассеяния в малых объемах, а именно: коэффициентов асимметрии изображения и фрактальной размерности муарового узора.
Проведена практическая апробация предложенных информационно-измерительных систем на магнитных многоканальных головках и металлизированных печатных платах с целью определения годности этих изделий.